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Tageos產品通過奧本大學RFID實驗室認證

作者:林俊奇 編譯
來源:來源網絡(侵權刪)
日期:2017-01-05 14:44:02
摘要:超高頻(UHF)RFID標簽制造商Tageos宣布在奧本大學RFID實驗室完成ARC項目產品測試。該公司表示,其EOS-400產品通過了零售環境相關的所有11項用例測試。

  超高頻(UHF)RFID標簽制造商Tageos宣布在奧本大學RFID實驗室完成ARC項目產品測試。該公司表示,其EOS-400產品通過了零售環境相關的所有11項用例測試。

  奧本大學RFID實驗室是一家研究機構,專注于零售,航空航天和制造業的技術實施,同時和零售商,供應商和技術提供商合作,提供性能及質量測試。ARC項目為RFID性能提供了全局基準,許多支持RFID的零售商和主要RFID標簽制造商都使用了該標準。

  Tageos的獨特制造工藝消除了蝕刻RFID產品中塑料載體層的需要,從而簡化了制造。與傳統的RFID標簽相比,該工藝可減少50%的膠水和塑料的需求。公司稱,ARC測試結果顯示,該工藝對性能無任何影響。

  Tageos首席執行官Matthieu Picon在一份準備好的聲明中說:“通過所有11項ARC測試是Tageos的一大成就。”這樣,零售商及供應商便可放心地使用Tageos RFID產品,享受產品的創新,成本好處。

  (rfid世界網獨家稿件,轉載請注明來源作者!)