物聯傳媒 旗下網站
登錄 注冊
RFID世界網 >  新聞中心  >  企業動態  >  正文

深圳千兆科與CISC攜手 推介RFID測試新技術

作者:深圳千兆科
來源:來源網絡(侵權刪)
日期:2016-07-14 17:23:01
摘要:近幾年,RFID技術及應用在全球范圍內快速增長,而RFID及NFC等技術被譽為物聯網系統的“First meter”,RFID及NFC產業的快速發展推動著物聯網產業的迅速落地。2016年7月12日,奧地利CISC半導體公司與深圳千兆科科技有限公司在深圳格蘭云天大酒店聯合舉辦了一場面向專業人士的RFID測試技術交流研討會。

  近幾年,RFID技術及應用在全球范圍內快速增長,而RFID及NFC等技術被譽為物聯網系統的“First meter”,RFID及NFC產業的快速發展推動著物聯網產業的迅速落地。2016年7月12日,奧地利CISC半導體公司與深圳千兆科科技有限公司在深圳格蘭云天大酒店聯合舉辦了一場面向專業人士的RFID測試技術交流研討會。

深圳千兆科與CISC攜手 推介RFID測試新技術

RFID測試技術交流研討會

  據了解,CISC是歐洲著名的聚焦于汽車、RFID及NFC系統設計、建模、仿真及測試技術的廠家,也是RFID、NFC及非接卡測試測量方案的國際領導者。本次研討會的主講嘉賓——CISC首席技術官Josef Preishuber-Pflügl就RFID標準及測試發表了專業的演講,并與大家就其中的技術要點進行了現場互動交流,內容涵蓋了UHF、HF/NFC標簽、芯片及讀寫器。

深圳千兆科與CISC攜手 推介RFID測試新技術

CISC首席技術官Josef Preishuber-Pflügl

  在研討會上,Josef為大家展示了CISC半導體公司開發的CISC RFID Xplorer測試儀。據介紹,這套設備有著便捷,高品質的RFID性能測試系統,專門為UHF RFID標簽通信范圍測試和讀寫器性能和一致性測試而開發設計。它的研發是為了能簡單用于標簽頻率的靈敏度,通信范圍和反向散射功率的測量以及測試UHF讀寫器。設備能在500M-1.3GHz頻率范圍內任意操作。在性能測試方面,測量速率可低至1s/頻率。在讀寫器性能和一致性測試方面,可在沒有記錄時間限制時實時進行信號記錄。

  另外,還展示了一套便捷、高品質的測試系統CISC NFC Xplorer。它專門為HF RFID和NFC設備測量和性能及一致性測試而開發設計。該測試系統是專業的測試工具靈活性高,便于運送。只需要幾分鐘就能拆解和設置裝置,不僅節約時間,而且保證用戶可妥善處理。

  據介紹,CISC的測試儀器將以秒的速度來尋找和修正讀寫器和標簽問題,并通過自動性能測試和自動一致性測試來節省出廠時間以及企業成本。Jose指出,CISC將用更可高精度和效率的產品測試方式助推RFID產業的成熟,通過物聯網這最初的1米路程加速物聯網產業的迅速落地。

深圳千兆科與CISC攜手 推介RFID測試新技術

CISC RFID Xplorer測試儀

  Josef告訴記者,CISC Semiconductor在標準化組織ISO/IEC和GSI EPCglobal有著領袖地位,以其10多年RFID測試經驗可確保所測試的結果就是行業中最新的標準數據,并能保證消費者可便捷的使用可靠產品。

深圳千兆科與CISC攜手 推介RFID測試新技術

深圳千兆科業務總監羅海濤先生演示CISC RFID Xplorer測試儀

  對深圳千兆科及CISC RFID Xplorer測試儀感興趣的朋友可以通過以下鏈接下載當天演講PPT(中文版):

  https://www.cisc.at/rfid_nfc_workshop_giga-science_cisc_china_2016/

人物訪談