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TCL
  • 傳統的智能卡測試平臺需要人工干預，嚴重影響測試效率，因此難以滿足智能卡行業的測試需求。針對這個問題，在此提出一種新的解決方案。該方案以PC／SC為編程接口，實現了測試平臺與智能卡的通信，利用擴展的TCL解釋器定義了一種新的測試語言ATP，它包含TCL內置命令和應用程序的相關命令。測試人員可以利用ATP語言編寫測試用例，在此平臺上完成對智能卡的自動化測試。該方案已經得到實際驗證。