唐領科技羅海濤：RFID系統級測試探秘

　　8月16日，2017第12屆RFID世界應用創新大會在深圳會展中心隆重舉辦。本次大會共邀請了300余家RFID行業產業鏈各環節的優秀企業、行業權威專家、RFID終端用戶代表共同參與，剖析行業發展方向，共同探索行業發展新模式。在本次大會上，深圳市唐領科技有限公司營銷總監羅海濤先生以《RFID系統級測試探秘》為主題，與會場觀眾進行了精彩的演講。

深圳市唐領科技有限公司營銷總監羅海濤先生

　　RFID標簽是由RFID天線與RFID芯片構成的，而RFID標簽和讀寫器就構成了整個RFID系統。在RFID測試標準里面，RFID標簽和讀寫器的測試有規范性測試(包括時序、波頻、頻譜等)和性能測試(包括反向功率、讀距、反向距離等)，RFID系統則包括效率測試和互操做性測試。

　　傳統的RFID測試方式，首先在天線上，使用網絡分析儀(VNA)去測試是沒辦法測試出功率等級的變換，其次是不能接收讀寫器發出不同指令的能量，同時當天線和芯片匹配在一起時，會發生輸入阻抗的變化。其次在協議上，使用頻譜分析儀去測試，但在標簽性能如激活功率、讀取范圍，讀寫器接收靈敏度、讀寫器和標簽仿真等問題都沒辦法測試。而如果使用矢量信號源+示波器+頻譜分析儀+軟件等方式去測試，不僅程序復雜而且價格也很高。

　　為此，羅總在會上一一介紹了RFID在標簽及標簽芯片、讀寫器、系統的各種測試方式。

　　標簽及標簽芯片的測試方式，一是性能測試，它會涉及到校準及環境、激活功率、反向功率等，當測試所選擇的天線、指令(Query, Read EPC)、發射功率設置及擺放位置的不同，也會導致測試結果的不相同。二是方向性測試，不同角度的標簽導致其性能差別很大。除此之外，還有全自動規范性測試生成測試報告，當通過自動化規范性測試軟件了解到不合格的項目之后，針對不合格的項目可以對具體的波形、時序、頻譜進行分析，標簽存取測試如讀/寫內存測試等，快速了解標簽或標簽芯片存在的規范性問題。

　　接著在讀寫器的測試方式，在性能測試上，獨立標簽測試需要標簽回復(仿真標簽)去確認讀寫器可以識別的標簽的響應，并且讀寫器可以改變標簽的參數變量如 BLF變量(反向鏈路頻率)和占空比變量等，最后會呈現出可以支持頻率和整個功率范圍的讀寫器性能。而在規范性測試上，通過仿真標簽及Rx天線接收來自讀寫器的信號，可以分析每個指令的內容、波形、時序等，且可以設置指令觸發并長時間記錄數據流。

讀寫器接收靈敏度及讀取成功率

　　RFID系統測試方式，其系統性能依賴于標簽性能、讀寫器性能和協議設置和軟件這幾方面。系統測試需要獲得相關的信息，如標簽與讀寫器之間通信的實際內容，需要讀寫器指令及標簽響應時序、指令去觸發分析;通信內容統計需要Q值、響應次數、沖突次數等去讀取標簽次數并進行指令統計。

　　羅總表示，CISC提供完整的RFID測試方案，該方案包括了標簽性能測試系統、標簽方向性測試系統、標簽規范性測試系統(自動化及手動)、讀寫器性能測試系統、標簽仿真及監聽測試系統、通信分析及場強記錄系統以及TIPP等。