HID Global和Omni-ID達成專利糾紛協議
作者:連橫 編譯
來源:來源網絡(侵權刪)
日期:2015-12-07 09:23:27
摘要:HID Global宣布,與Omni-ID公司達成了一個秘密協議,針對Omni-ID公司起訴HID Global某些產品專利侵權的訴訟已友好解決。
HID Global宣布,與Omni-ID公司達成了一個秘密協議,針對Omni-ID公司起訴HID Global某些產品專利侵權的訴訟已友好解決。HID Global將繼續在美國和世界各地生產和銷售全系列的RFID產品,包括超高頻(UHF)金屬標簽,HID Global現在享有該專利的許可使用權。
該訴訟是在2014年由Omni-ID向美國地區法院提起。在訴訟中,Omni-ID公司聲稱,該公司率先推出并實現了一個標簽系統,減少標簽隔離表面對射頻識別器發出信號的破壞,該公司的專利是采用一種最小厚度的解耦器,捕獲讀寫器發出的無線電波,減少液體和金屬表面等不利影響。Omni-ID聲稱,HID的Ultra RFID標簽InLine侵犯了該專利設計。
HID Global識別技術部門的副總裁Marc Bielmann,在一份準備好的聲明中表示:“HID Global對和Omni-ID公司達成的該專利的解決方案很滿意。通過這個決議,HID Global將能夠繼續擴大其UHF產品范圍,而不會損害客戶的利益。”
Omni-ID公司的首席執行官George E. Daddis, Jr.表示,“Omni-ID公司的目標是推動RFID技術在工業物聯網(IoT)中實現核心價值,并推動該技術在全球的使用,該協議標志著我們朝著這個方向又邁進了一步。”
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